结合相控阵超声技术，介绍常规探头和相控阵探头近场长度的用途、对检测结果的影响以及不同标准和文献使用的计算方法；特别是圆形晶片和矩形晶片近场长度计算方法的比较、直探头和斜探头穿透延迟水层或楔块后等效近场长度的计算原理和方法等。对实际工作中探头的选用、相控阵聚焦法则的设置、缺陷的定量评价等具有一定的指导意义。

主讲人:廉国选

中科院声学所检测声学与无损检测技术研究团队负责人、中国声学学会理事

研究员，持证：TWI&CCS TOFD/PAUT II级(2011)，航天部 RT/UT II级 (1992) 现任中科院声学所检测声学与无损检测技术研究团队负责人，任中国声学学会理事、中国医学影像杂志编委、Sensor和应用声学杂志审稿人，主持或组织实施了10余项国家和院部级重大科研项目，发表文章80余篇，曾获国防科学技术、国家科技进步、中国航海学会二等奖各1项。 长期从事检测声学与无损检测技术研究，在超声传播理论、压电换能器、超声信号处理和阵列成像、自动超声检测系统等方面有丰富的研究和应用经历。近年来，主要研究固体中超声波的动态光弹观测技术、弱粘接界面超声评价、高速智能化超声计算成像技术等。