介绍三维超高清漏磁无损检测在特征设备缺陷检测评估中的应用及其关键技术。缺陷漏磁成像技术一直是无损检测领域的研究热点之一，随着漏磁检测技术的不断进步，漏磁检测装置由单轴检测逐渐发展成为三轴检测，检测到的漏磁信号包含更加完整的缺陷信息，为实现缺陷的三维成像提供条件。缺陷的三维漏磁成像是对实际缺陷的完全重构，在图像中体现出缺陷的三维轮廓信息。本讲座将介绍缺陷三维漏磁成像及基于深度学习网络的智能反演方法，并展望特种设备漏磁检测技术今后的发展趋势。

主讲人:彭丽莎

清华大学博士、助理研究员

2019年在清华大学获博士学位，主要从事电磁无损检测与评估研究。主持国家自然科学基金青年项目、中国博士后科学基金面上项目各1项，参与国家重大科学仪器设备开发专项、国家重点研发计划、国家863重大项目等十余项，获湖北省技术发明一等奖、日内瓦国际发明展金奖、远东无损检测新技术论坛一等奖、北京市优秀毕业生等奖励荣誉。共发表论文40余篇、授权国家发明专利21件，美国专利4件。